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HW-2000凝胶色谱工作站GPC
  • 由分子量标定曲线及峰切片面积计算高分子物质的各种统计分子量(数均、重均、Z均、Z+1均、粘均、10%面积前重均、90%面积后重均)及分子量分布宽度指数、累积重量分布曲线、切片细节。
  • 提供窄分布校正和宽分布校正两种校正方式。
  • 可同时存储多根柱子的分子量标定曲线。
  • 待测样品峰可作为一个整体或切割为若干个峰分别进行分子量计算。
  • 可由若干组实测运动粘度及分子量数据回归普适校正参数α、K。
  • 可对负峰进行翻转以消除倒吸峰的影响。
  • 同时含有审计追踪和用户权限管理功能,符合新版药典规定。
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